Tutelle du CNRSLaboratoire des Composites Thermo Structuraux UMR5801

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Service de caractérisation morphologique & structurale



Le service de caractérisation morphologique et structurale du LCTS donne accès à une vision multi-échelles des matériaux composites étudiés au laboratoire. Les analyses menées dans le service grâce à de nombreux équipements sont essentielles pour comprendre les phénomènes à l'œuvre lors de l'élaboration et durant la vie de ces composites.


Cartographie EDS sous MEB d'un composite à matrice auto-cicatrisante

Les nombreux outils d'analyse du service (Liste des équipements ), allant du microscope optique au microscope électronique à transmission, permettent d'analyser et de visualiser les matériaux élaborés au laboratoire sur des échelles allant du centimètre à l'Angström. Ces techniques d'analyses sont utilisées aussi bien pour comprendre et optimiser les procédés d'élaboration que pour visualiser et définir les vieillissements mécaniques ou chimiques des matériaux. Dans leur fonctionnement " standard " ces équipements peuvent répondre à bon nombre des besoins. Toutefois, pour traiter des problématiques plus complexes, certains d'entre eux ont été munis d'outils spécifiques. Ainsi, le MEB environnemental FEI peut être équipé d'une platine chauffante ou d'une platine de traction en est une illustration. Il est alors possible de suivre in-situ, sous MEB, l'oxydation d'un matériau ou encore l'apparition des fissures lors d'essais de traction.

Cliché de microscopie électronique à transmission (fond clair) d'un composite SiC-SiC en coupe transverse, laissant voir le contraste entre une matrice de SiC colonnaire, très cristallisée et une fibre comportant des nano-grains. Une couche d'interphase parfaitement amorphe est placée entre les deux.

Ces différents moyens d'analyse sont accessibles à l'ensemble du personnel après formation. Il en est de même pour les outils de préparation microscopique des échantillons.



Liste des équipements de caractérisation présents au laboratoire :


  • MET Philips CM30ST
  • MEB environnemental FEI Quanta400 FEG, EDS EDAX, platine chauffante 1500°C, platine de traction 5kN
  • MEB Hitachi S4500 FEG
  • Ion Slicer JEOL (préparation de lames minces MET)
  • Cross Section Polisher JEOL (préparation de surfaces MEB)
  • Spectromètre Raman
  • Diffractomètre 4-cercles d5000 SIEMENS et base de données JCPDS (ICDD PDF)
  • Microscope optique Nikon, microscope inversé Reichert (Fond Clair et Lumière polarisée)

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  • Responsable

    Danet Julien
    ITA CNRS
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    Membres

    Alrivie Muriel
    ITA
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    Francois Catherine
    Détachée SAFRAN
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    Plaisantin Herve
    Ingénieur SAFRAN
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